In circuit test

픽처를 이용하여

기판상의 테스트 포인트에 직접

접촉하여 전기적인 회로동작

특성의 양 불량을 테스트하는 검사기,

기판실장 공정에서 발생하는

부품 누락, 리드칩, 역삽, 브릿지 및 저항,

코일, 캐패시터, 다이오드 등의

정수측정과 숏트, 오픈 테스트 등을 검사한다.